可對離子遷移・絕緣電阻值進行高精度・高信賴性・高效率的評價。
從當今的地球・市場環境來看，省能源・鉛/無鹵素・小型輕量・低價格・高信賴等觀點出發的，
新素材・新實裝方法的研究開發・評價方法的重估是必須的。
J-RAS公司把握市場的需要，為您提供容易操作而且可以進行高信賴性評價試驗的，
新時代離子遷移實驗裝置 ECM-100系列。
是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流
電壓（BIAS VOLTAGE）,經過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的
現象發生（ION MIGRATION）,并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。（ION MIGRATION TESTING）
適用規格：JPCA-ET01-2001
項目 規格・性能・其他
筺體 型式 ECM-100/40-n(n:Channel數) ECM-100/100-n(n:Channel數)
筺體型式 40CH型（*大4計測組合） 100CH型（*大10計測組合）
筺體寸法 265W×330.3D×405H（突起部除外） 417.4W×330.3D×405H（突起部除外）
消費電力 大約70VA（4計測組合實裝時） 大約130VA（10計測組合實裝時）
重量 大約16kg（4計測組合實裝時） 大約25kg（10計測組合實裝時）
使用電源 AC100V50/60Hz
計測組合 計測Channel數 10CH
計測電阻值范圍 2kΩ～10TΩ
DCbias印加 電壓范圍 2范圍（1.0～30.0V，30.1～300.0V）
電壓范圍設定 1組（5CH）
電壓級別設定 Channel個別
設定分解能 0.1V
設定精度 ±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
*大輸出電流 700μA／CH
DCbias計測 計測范圍 2范圍（0～33V、0～330V）
計測精度 ±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V
計測分解能 0.1V～（整數+小數點以下１行表示）
AD轉換器 24bits⊿∑AD轉換器／CH
計測速度 16msec／10CH
電流計測 計測方式 CHANNEL個別HIGH-SIDE電流計測方式
計測范圍 5范圍（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA）
計測范圍設定 CHANNEL個別指定 或者自動范圍
計測精度 ±0.3％（F.S.）
計測分解能 1pA～（有効數字4行表示）
AD轉換器 24bits⊿∑AD轉換器／CH
計測速度 16msec／100CH
ＣＰＵ組合 制御Channel數 5～100CH（5Channel単位）
數據收錄 試驗制御単位 1組（5CH）
試驗設定小時 1分～9999小時
收錄間隔（定期） 1分～60分
收錄間隔（ECM發生時） 16msec
記錄媒體 Compact flashcard
其他 主PC通信機能 LAN接觸口×1
環境試驗機通信機能 RS-232C接觸口×2
外部輸入1 接點輸入×4（聯動裝置，緊急停止制御可）
外部輸入2 電壓輸入(1-5V)×2，電流輸入(4-20mA)×2（溫度・濕度記錄可）
自動校正 bias輸出補正，異常leak電流檢測
計測線 TRIAXIAL線（耐熱溫度：200度，被膜材質：特氟隆樹脂）
東莞市賜金電子科技有限公司主要代理日本J-RAS離子遷移設備、低阻測試儀；日立恒溫恒濕、冷熱沖擊測試儀、快速溫變箱；HAST等設備，參與了多個大型PCB中央實驗室、第三方檢測機構等眾多設備投標、建設。
歡迎來電咨詢：15807698576/0769-26387119師先生